实验室简介
一家从事半导体分立器件研发、生产和销售的高新技术企业

开展的测试及实验

NO.
测试/试验名称
依据标准
分类
1
静态参数测试
/
常规静态参数测试
2
可控硅关断时间tq
GB/T 15291-2015 9.1.10
3
通态不重复峰值电流ITSM
GB/T 15291-2015 9.3.3
4
通态电流临界上升率dI/dt
GB/T 15291-2015 9.3.5
5
断态电压临界上升率
dV/dt
GB/T 15291-2015 9.1.11
6
可控硅门极触发特性测试
GB/T 15291-2015 9.1.7
7
EFT电快速脉冲群测试
JESD51-3,JESD51-4
8
超声分层扫描 SAT
/
可靠性试验
9
高温反偏 HTRB
GB/T 15291-2015,GB/T 4023-1997,JESD22-A108D,MIL-STD-750F
10
高温栅极偏置 HTGB
GB/T 15291-2015,GB/T 4023-1997,JESD22-A108D,MIL-STD-750F
11
高栅交流阻断 ACBV
GB/T 15291-2015,GB/T 4023-1997,JESD22-A108D,MIL-STD-750F
12
预处理试验 PC
JESD22-A113H
13
温度循环 TC
JESD22-A104E
14
高压蒸煮 PCT
JESD22-A102E
15
无偏高加速耐湿热 UHAST
JESD22-A118B
16
高温存储寿命 HTSL
JESD22-A103E
17
低温存储寿命 LTSL
JESD22-A119A
18
高温高湿存储 THT
GB/T2423.3-2006,
JESD22-A101D
19
高温高湿反偏 H3TRB
GB/T2423.3-2006,
JESD22-A101D
20
交变湿热 Damp heat,cyclic
GB/T2423.4-2008
21
回流焊 Reflow
J-STD-020E,J-STD-033
22
耐焊接热 RSH
JESD22-A111 (SMD),
JESD22-B106 (PTH)
23
可焊性 SD
/
24
盐雾试验
GB/T 2423.17

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