实验室简介
一家从事半导体分立器件研发、生产和销售的高新技术企业

常规静态参数测试

设备名称
设备图
可承担试验项目
依据标准
JUNO测试系统
韦达半导体
半导体器件常规静态参数参数
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DBC-091晶闸管关断时间测试仪
韦达半导体
单、双向可控硅的关断时间tq测试
GB/T 15291-2015 9.1.10
DBC-105浪涌及峰值电压测试台
韦达半导体
单、双向可控硅的浪涌ITSM测试
GB/T 15291-2015 9.3.3
DBC-082通态电流临界上升率试验台
韦达半导体
单、双向可控硅的dI/dt测试
GB/T 15291-2015 9.3.5
DATA-206型晶闸管dv/dt测试仪
韦达半导体
单、双向可控硅的dV/dt测试
GB/T 15291-2015 9.1.11
可控硅门极触发特性测试仪
韦达半导体
单、双向可控硅的IGT、VGT测试
GB/T 15291-2015 9.1.7
QT2晶体管半导体管特性图示仪
韦达半导体
静态电参数
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EFT电快速脉冲群测试
韦达半导体
EFT电快速脉冲群测试
JESD51-3,JESD51-4

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