实验室简介
一家从事半导体分立器件研发、生产和销售的高新技术企业

失效分析(FA)

设备名称
设备图
可承担试验项目
依据标准
3D光学显微镜
韦达半导体
用于外观检测,可二维、三维显示
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X-RAY (X射线检测系统)
韦达半导体
用于观察封装焊线、装片、空洞、分层等
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激光开盖(Laser Decap)
韦达半导体
将样品的塑封外胶剥离去除
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断面切割机
韦达半导体
利用切割机裁将样品裁切成适当尺寸
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断面研磨、抛光机
韦达半导体
样品以不同粗细之砂纸 (或钻石砂纸),进行研磨
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SEM+EDX
韦达半导体
用于观察芯片表面金属引线的短路、开路、电迁移、氧化层的针孔和受腐蚀的情况;可用来观察硅片的层错、位错及作为图形线条的尺寸测量;可用来分析产品失效点的元素。
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X 荧光光谱仪
韦达半导体
专业用于环保有害元素的快速检测仪
IEC62321
GB/T26125-2011

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韦达半导体
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